LCR測(cè)試儀是以微處理器控制的數(shù)字式測(cè)量各種無源阻抗參量的儀器，因其測(cè)試速度快、讀數(shù)方便、功能多、頻率范圍寬、測(cè)量范圍大、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度較高、易于實(shí)現(xiàn)程控等眾多優(yōu)點(diǎn)己廣泛應(yīng)用于計(jì)量測(cè)試、科研單位測(cè)量各類電子元器件的阻抗特性和篩選、元器件生產(chǎn)及維修制作等領(lǐng)域，目前此類儀器型號(hào)繁多，且絕大部分為多參數(shù)、多功能的測(cè)量?jī)x，操作方法各異，為使其發(fā)揮多種測(cè)量功能并保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，應(yīng)正確設(shè)定測(cè)量參數(shù)。
Ø 選擇測(cè)試夾具是保證測(cè)量準(zhǔn)確性的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。各種LCR測(cè)量?jī)x的測(cè)試端子不同，所使用的測(cè)試夾具也不同，為消除引線的附加阻抗，*常用的是四端對(duì)測(cè)試夾具，這種配置能方便、穩(wěn)定和**地進(jìn)行測(cè)量，同時(shí)避免了由于諸多因素如互感、測(cè)量信號(hào)的干擾以及測(cè)試連接中的不希望殘余信號(hào)引起的測(cè)量限制。四端分別是大電流、高電位、低電位和小電流，測(cè)量中注意正確連接。
Ø 此外還有一種整體測(cè)試夾具，通常直接在儀器上裝有一對(duì)外置帶彈簧可調(diào)節(jié)間距的夾具，適用于引線直徑較小的徑向或軸向的元器件測(cè)試，當(dāng)插入元件時(shí)，能自動(dòng)提供正確的四端連接。當(dāng)引線直徑較大時(shí)還可選用其它的四端或三端引線測(cè)試夾具。為了用四端對(duì)測(cè)量技術(shù)來實(shí)現(xiàn)**測(cè)量，LCR測(cè)試儀與被測(cè)件之間的測(cè)試線應(yīng)盡可能短，*好使用原配線，四端對(duì)接頭的外屏蔽必須在盡可能接近被測(cè)件之處全部連在一起。根據(jù)被測(cè)件選擇測(cè)量頻率、速度(時(shí)間)和等效電路。
Ø 一般常用的測(cè)量頻率有：100/120Hz，1kHz，10kHz，10kHz；速度分別有慢/中/快速（或短/中/長(zhǎng)）；等效電路為串聯(lián)或并聯(lián)模式。有些測(cè)試儀使用說明書給出了推薦的測(cè)試條件，用戶應(yīng)遵從。進(jìn)行開路修正和短路修正：在選定測(cè)量參數(shù)等后，將被測(cè)件接到測(cè)試夾之前，必須進(jìn)行誤差修正來消除測(cè)試夾具的殘余誤差。開路修正用來消除與被測(cè)件并聯(lián)的雜散導(dǎo)納，修正方法是：測(cè)試夾具開路，較簡(jiǎn)單的按“open”鍵即可，復(fù)雜些的可按儀器操作說明書的步驟進(jìn)行；短路修正用來消除與被測(cè)件串聯(lián)的殘余阻抗的影響，修正方法是：將測(cè)試夾具的所有電極彼此相連或?qū)⒁欢搪窏l接到測(cè)試夾具上，較簡(jiǎn)單的按“short”鍵即可，復(fù)雜些的可按儀器操作說明書的步驟進(jìn)行。選擇測(cè)量頻率：LCR測(cè)試儀一般的默認(rèn)頻率為1kHz，它雖然有很寬的頻帶，但國家目前還沒有出臺(tái) LCR測(cè)試儀檢定規(guī)程，所以計(jì)量部門在檢定L，C，R（Z）參數(shù)時(shí)多數(shù)情況下使用的頻率為1kHz，因?yàn)闇y(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是在1kHz溯源的。
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